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發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent(二). 二
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Substantive examination guidelines for invention patent(二)
作者:
張仁平,
團體作者:
國立臺灣大學
出版地:
臺北市
出版者:
經濟部智慧財產局;
出版年:
2007[民96]
版本:
二版
面頁冊數:
[8], 370面圖 : 21公分;
集叢名:
智慧財產培訓學院教材8
標題:
專利 - 標準 -
附註:
參考書目：面[367]
附註:
含附錄
其他題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent
ISBN:
986-00-7693-6
發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent(二). 二
張, 仁平
國立臺灣大學
發明專利實體審查基準
= Substantive examination guidelines for invention patent(二). 二 / 張仁平作 ; 國立臺灣大學科際整合法律學研究所編印 - 二版. - 臺北市 : 經濟部智慧財產局, 2007[民96]. - [8], 370面 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 8).
參考書目：面[367]含附錄.
ISBN 986-00-7693-6ISBN 978-986-00-7693-6
專利 -- 標準
發明專利實體審查基準 = Substantive examination guidelines for invention patent(二). 二
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東方語文圖書區(五樓)
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