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發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent(一). 一
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Guidelines for substantive examination of invention patent(一)
作者:
蔡瑟珍,
其他團體作者:
國立臺灣大學
出版地:
臺北市
出版者:
經濟部智慧局;
出版年:
2007[民96]
版本:
初版
面頁冊數:
[6], 192面圖 : 21公分;
集叢名:
智慧財產培訓學院教材5
標題:
專利 - 標準 -
附註:
參考書目：面[183]
附註:
含附錄：1.與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs)第二十九條，2.專利法，3.專利法施行細則
ISBN:
986-00-5161-5
發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent(一). 一
蔡, 瑟珍
發明專利實體審查基準
= Guidelines for substantive examination of invention patent(一). 一 / 蔡瑟珍作 ; 國立臺灣大學科際整合法律學研究所編印 - 初版. - 臺北市 : 經濟部智慧局, 2007[民96]. - [6], 192面 ; 圖 ; 21公分. - (智慧財產培訓學院教材 ; 5).
參考書目：面[183]含附錄：1.與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs)第二十九條，2.專利法，3.專利法施行細則.
ISBN 986-00-5161-5ISBN 978-986-00-5161-2
專利 -- 標準
發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent(一). 一
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