High resolution X-ray diffractometry...
Bowen, D. Keith (1940-)

 

  • High resolution X-ray diffractometry and topography /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: High resolution X-ray diffractometry and topography /D. Keith Bowen and Brian K. Tanner.
    作者: Bowen, D. Keith
    其他作者: Tanner, B. K.
    出版者: Bristol, PA :Taylor & Francis,c1998.
    面頁冊數: x, 252 p. :ill. ;28 cm.
    標題: X-ray crystallography.
    ISBN: 0850667585 (hbk.) :
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
320000366569 西方語文圖書區(四樓) 1圖書 一般圖書 QD945 B786 1998 一般使用(Normal) 在架 0
  • 1 筆 • 頁數 1 •
評論
Export
取書館別
 
 
變更密碼
登入