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Semiconductor material and device ch...
~
Schroder, Dieter K.
Semiconductor material and device characterization /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Semiconductor material and device characterization /Dieter K. Schroder.
作者:
Schroder, Dieter K.
出版者:
Hoboken, N.J. :IEEE Press ;c2006.
面頁冊數:
xv, 779 p. :ill. ;25 cm.
附註:
"Wiley-Interscience."
標題:
SemiconductorsTesting.
ISBN:
0471739065 (acid-free paper) :$CNT$1580
Semiconductor material and device characterization /
Schroder, Dieter K.
Semiconductor material and device characterization /
Dieter K. Schroder. - 3rd ed. - Hoboken, N.J. :IEEE Press ;c2006. - xv, 779 p. :ill. ;25 cm.
"Wiley-Interscience."
Includes bibliographical references and index.
ISBN: 0471739065 (acid-free paper) :$CNT$1580
LCCN: 2005048514
Nat. Bib. No.: GBA573304bnbSubjects--Topical Terms:
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Semiconductors
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一般圖書
QC611 S381 2006
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