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正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = Th...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
Author:	翁介晨,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	[高雄市]
Published:	撰者;
Year of Publication:	民103[2014]
Description:	52葉圖 : 30公分;
Subject:	鰭化式場效電晶體
Subject:	FinFET
Online resource:	http://hdl.handle.net/11296/ndltd/29910424516152688583
Notes:	106年10月31日公開
Notes:	參考書目：葉50-52
Summary:	紙本專利開放日106.07.30

正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
翁, 介晨

正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress / 翁介晨撰 - [高雄市] : 撰者, 民103[2014]. - 52葉 ; 圖 ; 30公分.
106年10月31日公開參考書目：葉50-52.
鰭化式場效電晶體FinFET

正偏壓不穩定效應及熱載子效應對N型鰭化式場效電晶體之可靠度研究 = The Investigation of Reliability for N-Channel FinFET in Positive Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress
LDR:01300nam0 2200277 450 001 430214
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010 0 $b 精裝
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300 $a 參考書目：葉50-52
314 $a 指導教授：葉文冠博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
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