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無線射頻(RFID)技術導入IC測試流程管理之研究 = The Appl...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

無線射頻(RFID)技術導入IC測試流程管理之研究 = The Application of RFID Technology for IC Testing Flow Control

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Application of RFID Technology for IC Testing Flow Control
Author:	鄭又仁,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	[高雄市]
Published:	撰者;
Year of Publication:	2014[民103]
Description:	55面圖,表 : 30公分;
Subject:	無線射頻辨識系統
Subject:	RFID
Online resource:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/13749750238579006013
Notes:	104年10月31日公開
Summary:	紙本專利開放日104.07.30

無線射頻(RFID)技術導入IC測試流程管理之研究 = The Application of RFID Technology for IC Testing Flow Control
鄭, 又仁

無線射頻(RFID)技術導入IC測試流程管理之研究 = The Application of RFID Technology for IC Testing Flow Control / 鄭又仁撰 - [高雄市] : 撰者, 2014[民103]. - 55面 ; 圖,表 ; 30公分.
104年10月31日公開.
參考書目：面44-45.
無線射頻辨識系統RFID

無線射頻(RFID)技術導入IC測試流程管理之研究 = The Application of RFID Technology for IC Testing Flow Control
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010 0 $b 精裝
010 0 $b 平裝
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200 1 $a 無線射頻(RFID)技術導入IC測試流程管理之研究 $d The Application of RFID Technology for IC Testing Flow Control $z eng $f 鄭又仁撰
210 $a [高雄市] $c 撰者 $d 2014[民103]
215 0 $a 55面 $c 圖,表 $d 30公分
300 $a 104年10月31日公開
314 $a 指導教授：施明昌博士
320 $a 參考書目：面44-45
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
330 $a 紙本專利開放日104.07.30
510 1 $a The Application of RFID Technology for IC Testing Flow Control $z eng
610 0 $a 無線射頻辨識系統 $a 半導體封測 $a 物流管理 $a 生產效益
610 1 $a RFID $a Radio frequency identification system $a Semiconductor assembly and testing $a Logistics management $a Production efficiency
681 $a 008M/0019 $b 542201 8772 $v 2007年版
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