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TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on ...

國立高雄應用科技大學電子工程系碩士在職專班

TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing
作者:	李嶸雲,
其他團體作者:	國立高雄應用科技大學
出版地:	[高雄市]
出版者:	撰者;
出版年:	2007[民96]
面頁冊數:	73面圖，表 : 30公分;
標題:	源極驅動器測試
標題:	TFT-LCD Source Driver Test
附註:	參考書目：面71-73
摘要註:	本文分析現在源極驅動IC設計公司量產中的源極驅動電路測試程式，藉由縮短測試時間及提升測試良率兩大方向的研究，實際提高了測試的產量，節省測試成本。並應用物件導向程式設計技術的重用性(reuse)，使得現有的測試程式能快速地套上本文所提出的方法，不需要大量更改現有的測試程式。在縮短測試時間的研究，使用了「平行運算」及「多執行緒」，並輔以「改變測試方法」、「精簡截入測試條件」、「合併測試項目」、「已傳址取代傳值」及「改善設計不當程式庫」等方式來縮短測試時間。並將這些方法實際應用到量產的程式，實際縮短了41%的測試時間，相當於增加了41%的產能。在提升測試良率的研究上，我們提出了負載電流即時動態補償方式，在不更動測試系統硬體的狀態下，藉由軟體的方式提高了LCD PE負載電流輸出的精確度，以提供源極驅動電路更精確的負載電流，在執行時間改變不大的情況下，提升了約1%的測試良率，相當於增加了1%的產能，對源極驅動IC產業有所貢獻。

TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing
李, 嶸雲

TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing / 李嶸雲撰 - [高雄市] : 撰者, 2007[民96]. - 73面 ; 圖，表 ; 30公分.
參考書目：面71-73.
源極驅動器測試TFT-LCD Source Driver Test

TFT-LCD源極驅動IC量產測試改善之研究 = Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing
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314 $a 指導教授：鄭平守博士
328 $a 碩士論文--國立高雄應用科技大學電子工程系碩士在職專班
330 $a 本文分析現在源極驅動IC設計公司量產中的源極驅動電路測試程式，藉由縮短測試時間及提升測試良率兩大方向的研究，實際提高了測試的產量，節省測試成本。並應用物件導向程式設計技術的重用性(reuse)，使得現有的測試程式能快速地套上本文所提出的方法，不需要大量更改現有的測試程式。在縮短測試時間的研究，使用了「平行運算」及「多執行緒」，並輔以「改變測試方法」、「精簡截入測試條件」、「合併測試項目」、「已傳址取代傳值」及「改善設計不當程式庫」等方式來縮短測試時間。並將這些方法實際應用到量產的程式，實際縮短了41%的測試時間，相當於增加了41%的產能。在提升測試良率的研究上，我們提出了負載電流即時動態補償方式，在不更動測試系統硬體的狀態下，藉由軟體的方式提高了LCD PE負載電流輸出的精確度，以提供源極驅動電路更精確的負載電流，在執行時間改變不大的情況下，提升了約1%的測試良率，相當於增加了1%的產能，對源極驅動IC產業有所貢獻。
510 1 $a Studies on Mass Production of TFI-LCD Source Driver IC Testing $z eng
610 # 0 $a 源極驅動器測試 $a 良率 $a 物件導向技術 $a 多執行緒 $a 負載電流動態補償
610 # 1 $a TFT-LCD Source Driver Test $a Multithread $a Yield $a Reduction $a OOP
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