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奈米科技與檢測技術

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Secondary Intellectual Responsibility:	羅慧娟,
Secondary Intellectual Responsibility:	彭國勝,
Secondary Intellectual Responsibility:	王振宇,
Place of Publication:	新竹市
Published:	工研院量測中心;
Year of Publication:	民92[2003]
Edition:	初版
Description:	[11],217面圖,表 : 26公分;
Subject:	奈米技術 -
ISBN:	957-774-602-0

奈米科技與檢測技術
奈米科技與檢測技術 / 彭國勝,王振宇,羅慧娟執行編輯 - 初版. - 新竹市 : 工研院量測中心, 民92[2003]. - [11],217面 ; 圖,表 ; 26公分.
含索引.
ISBN 957-774-602-0
奈米技術

羅, 慧娟

奈米科技與檢測技術
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210 $a 新竹市 $d 民92[2003] $c 工研院量測中心
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310000558539

東方語文圖書區(五樓)

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一般圖書

440.7 4267 2003

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