不同金屬閘極對多重鰭數N型鰭式場效電晶體之可靠度研究 = Impact ...
國立高雄大學電機工程學系碩士班

 

  • 不同金屬閘極對多重鰭數N型鰭式場效電晶體之可靠度研究 = Impact of Metal-Gate on Device Performance and Reliability of Multi-Fin nFinFETs
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Impact of Metal-Gate on Device Performance and Reliability of Multi-Fin nFinFETs
    Author: 陳詩堯,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 撰者;
    Year of Publication: 2016[民105]
    Description: 110面圖,表格 : 30公分;
    Subject: 鰭式場效電晶體
    Subject: FinFET
    Online resource: http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/19443910947791938800
    Notes: 105年10月25日公開
    Notes: 參考書目: 面90-95
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310002642133 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 7504.2 2016 一般使用(Normal) On shelf 0
310002642141 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 7504.2 2016 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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