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鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Lia...
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國立高雄大學電機工程學系--先進電子構裝技術產業研發碩士專班
鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
Record Type:
Language materials, printed : monographic
Paralel Title:
The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
Author:
李佑群,
Secondary Intellectual Responsibility:
國立高雄大學
Place of Publication:
高雄市
Published:
國立高雄大學;
Year of Publication:
2017[民106]
Description:
40葉圖,表 : 30公分;
Subject:
鍍鈀銅線
Subject:
Palladium Coated Copper Wire
Online resource:
http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/78270874102390303581
Notes:
106年10月25日公開
鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
李, 佑群
鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討
= The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium / 李佑群撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2017[民106]. - 40葉 ; 圖,表 ; 30公分.
106年10月25日公開.
參考書目: 葉38-40.
鍍鈀銅線Palladium Coated Copper Wire
鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
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指導教授: 施明昌博士
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博碩士論文區(二樓)
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博碩士論文區(二樓)
不外借資料
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