鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Lia...
國立高雄大學電機工程學系--先進電子構裝技術產業研發碩士專班

 

  • 鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
    Author: 李佑群,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2017[民106]
    Description: 40葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 鍍鈀銅線
    Subject: Palladium Coated Copper Wire
    Online resource: http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/78270874102390303581
    Notes: 106年10月25日公開
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310002760554 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4021.2 2017 一般使用(Normal) On shelf 0
310002760562 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4021.2 2017 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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