鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Lia...
國立高雄大學電機工程學系--先進電子構裝技術產業研發碩士專班

 

  • 鍍鈀銅線中的鈀分佈對打線良率之探討 = The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: The Study of Liability of Palladium Coated Copper Wire Bonding due to the Distribution of Palladium
    作者: 李佑群,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2017[民106]
    面頁冊數: 40葉圖,表 : 30公分;
    標題: 鍍鈀銅線
    標題: Palladium Coated Copper Wire
    電子資源: http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/78270874102390303581
    附註: 106年10月25日公開
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310002760554 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4021.2 2017 一般使用(Normal) 在架 0
310002760562 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4021.2 2017 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
評論
Export
取書館別
 
 
變更密碼
登入