近場量測系統應用於多位置平行射頻測試之電磁干擾探討 = Investig...
國立高雄大學電機工程學系碩士班

 

  • 近場量測系統應用於多位置平行射頻測試之電磁干擾探討 = Investigation of Interference of RF Test under Multi Sites using Near-Field System
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Investigation of Interference of RF Test under Multi Sites using Near-Field System
    Author: 柯韋智,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2017[民106]
    Description: 54葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 射頻訊號
    Subject: Radio Frequency Signal
    Online resource: http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/62762584639360187449
    Notes: 106年10月25日公開
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310002760976 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4148 2017 一般使用(Normal) On shelf 0
310002760984 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4148 2017 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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