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打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristic...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET
作者:	湯子奇,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2018[民107]
面頁冊數:	xi,93葉圖,表 : 30公分;
標題:	次臨界擺幅
標題:	Hot Carrier Effect
電子資源:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/rbzjhe
附註:	113年4月8日公開
附註:	參考書目: 葉91-93

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET
湯, 子奇

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET / 湯子奇撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2018[民107]. - xi,93葉 ; 圖,表 ; 30公分.
113年4月8日公開參考書目: 葉91-93.
次臨界擺幅Hot Carrier Effect

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET
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300 $a 參考書目: 葉91-93
314 $a 指導教授: 張文騰博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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610 0 $a 次臨界擺幅 $a 臨界電壓 $a 耦合效應 $a 打線接合 $a 多重鰭結構 $a 鰭式場效電晶體 $a 正偏壓不穩定性 $a 熱載子效應
610 1 $a Hot Carrier Effect $a positive bias temperature instability $a subthreshold swing $a threshold voltage $a coupling $a multi-fins structure $a Wire bonding $a FinFETs
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