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打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristic...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET
Author:	湯子奇,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2018[民107]
Description:	xi,93葉圖,表 : 30公分;
Subject:	次臨界擺幅
Subject:	Hot Carrier Effect
Online resource:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/rbzjhe
Notes:	113年4月8日公開
Notes:	參考書目: 葉91-93

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET
湯, 子奇

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET / 湯子奇撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2018[民107]. - xi,93葉 ; 圖,表 ; 30公分.
113年4月8日公開參考書目: 葉91-93.
次臨界擺幅Hot Carrier Effect

打線增加鰭式數量與間距的鰭式電晶體特性 = Characteristics of extended fin number and pitchby wire bonding FinFET
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300 $a 參考書目: 葉91-93
314 $a 指導教授: 張文騰博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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610 0 $a 次臨界擺幅 $a 臨界電壓 $a 耦合效應 $a 打線接合 $a 多重鰭結構 $a 鰭式場效電晶體 $a 正偏壓不穩定性 $a 熱載子效應
610 1 $a Hot Carrier Effect $a positive bias temperature instability $a subthreshold swing $a threshold voltage $a coupling $a multi-fins structure $a Wire bonding $a FinFETs
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