結合類神經網路LSTM與大數據分析技術用於半導體製程良率的改善 = Im...
國立高雄大學電機工程學系碩士班

 

  • 結合類神經網路LSTM與大數據分析技術用於半導體製程良率的改善 = Improvement of Semiconductor Process Yield Using Machine Learning and Big Data Analysis Techniques
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Improvement of Semiconductor Process Yield Using Machine Learning and Big Data Analysis Techniques
    Author: 李彥宏,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2017[民106]
    Description: 54葉圖,表格 : 30公分;
    Subject: LSTM
    Subject: LSTM
    Online resource: https://hdl.handle.net/11296/82u454
    Notes: 107年11月1日公開
    Notes: 參考書目:葉51-54
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310002821919 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4003 2018 一般使用(Normal) On shelf 0
310002821927 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4003 2018 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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