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以隨機電報雜訊對N型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Inves...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

以隨機電報雜訊對N型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of NFinFET by Random Telegraph Noise

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Investigation of Defect Distribution of NFinFET by Random Telegraph Noise
Author:	陳右霖,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2018[民107]
Description:	xv,90葉圖 : 30公分;
Subject:	隨機電報雜訊
Subject:	Subthreshold Swing
Online resource:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/qdcu67
Notes:	112年9月18日公開
Notes:	參考書目: 葉87-90

以隨機電報雜訊對N型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of NFinFET by Random Telegraph Noise
陳, 右霖

以隨機電報雜訊對N型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of NFinFET by Random Telegraph Noise / 陳右霖撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2018[民107]. - xv,90葉 ; 圖 ; 30公分.
112年9月18日公開參考書目: 葉87-90.
隨機電報雜訊Subthreshold Swing

以隨機電報雜訊對N型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of NFinFET by Random Telegraph Noise
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300 $a 參考書目: 葉87-90
314 $a 指導教授: 葉文冠博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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610 0 $a 隨機電報雜訊 $a 定電壓應力 $a 高介電係數材料 $a 鰭式場效電晶體 $a 次臨界斜率
610 1 $a Subthreshold Swing $a Constant Voltage Stress $a Random Telegraph Noise $a High-κ $a FinFET
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