近場量測應用於系統電路靜電消散路徑檢測及靜電防護最佳化設計之研究 = T...
國立高雄大學電機工程學系碩士班

 

  • 近場量測應用於系統電路靜電消散路徑檢測及靜電防護最佳化設計之研究 = The Near Field Measurement Technology for System Level ESD Testing and Optimization of ESD Protection
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: The Near Field Measurement Technology for System Level ESD Testing and Optimization of ESD Protection
    Author: 李承道,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2018[民107]
    Description: 77葉部分彩圖,表格 : 30公分;
    Subject: 系統級靜電放電檢測
    Subject: System Level Electrostatic Discharge Testing
    Online resource: https://hdl.handle.net/11296/x7tcxh
    Notes: 107年11月1日公開
    Notes: 參考書目:葉74-77
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310002822255 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4013 2018 一般使用(Normal) On shelf 0
310002822263 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4013 2018 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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