Multi-run memory tests for pattern s...
Mrozek, Ireneusz.

 

  • Multi-run memory tests for pattern sensitive faults
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : Monograph/item
    正題名/作者: Multi-run memory tests for pattern sensitive faultsby Ireneusz Mrozek.
    作者: Mrozek, Ireneusz.
    出版者: Cham :Springer International Publishing :2019.
    面頁冊數: x, 135 p. :ill., digital ;24 cm.
    Contained By: Springer eBooks
    標題: Semiconductor storage devicesTesting.
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2
    ISBN: 9783319912042$q(electronic bk.)
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