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功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = Th...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions
作者:	林孟琰,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2019[民108]
面頁冊數:	74葉部分彩圖 : 30公分;
標題:	三閘極鰭式場效電晶體
標題:	FinFET
電子資源:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/j5axs2
附註:	108年10月31日公開
附註:	參考書目: 葉59-63

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions
林, 孟琰

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions / 林孟琰撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2019[民108]. - 74葉 ; 部分彩圖 ; 30公分.
108年10月31日公開參考書目: 葉59-63.
三閘極鰭式場效電晶體FinFET

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions
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300 $a 參考書目: 葉59-63
314 $a 指導教授: 葉文冠博士
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