於超臨界二氧化碳下展演低濃度氫氟酸高效蝕刻剝離奈米矽薄膜之技術及其機制之...
國立高雄大學電機工程學系碩博士班

 

  • 於超臨界二氧化碳下展演低濃度氫氟酸高效蝕刻剝離奈米矽薄膜之技術及其機制之研究 = Technology for Silicon Nanomembrane by using Low Concentration Hydrofluoric under Supercritical Carbon Dioxide and its Mechanism Study
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Technology for Silicon Nanomembrane by using Low Concentration Hydrofluoric under Supercritical Carbon Dioxide and its Mechanism Study
    Author: 許竣凱,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2020[民109]
    Description: [15],122面圖,表 : 30公分;
    Subject: 磊晶層剝離技術
    Subject: epitaxial lift-off
    Online resource: https://handle.ncl.edu.tw/11296/er65xs
    Notes: 109年11月18日公開
    Notes: 參考書目:面102-105
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310002928375 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 0802.1 2020 一般使用(Normal) On shelf 0
310002928383 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 0802.1 2020 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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