利用半導體元件測定普朗克常數與波茲曼常數 = Measurements ...
國立高雄大學應用物理學系碩士班

 

  • 利用半導體元件測定普朗克常數與波茲曼常數 = Measurements of the Planck's constant and the Boltzmann's constant by using semiconductor devices
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Measurements of the Planck's constant and the Boltzmann's constant by using semiconductor devices
    作者: 徐義鴻,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2020[民109]
    面頁冊數: x,83葉圖,表 : 30公分;
    標題: 電壓源
    標題: voltage source
    電子資源: https://handle.ncl.edu.tw/11296/8xt2gs
    附註: 114年9月26日公開
    附註: 參考書目: 葉80-83
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310003138933 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 423203 2883 2020 一般使用(Normal) 在架 0
310003138941 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 423203 2883 2020 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
評論
Export
取書館別
 
 
變更密碼
登入