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利用半導體元件測定普朗克常數與波茲曼常數 = Measurements ...

國立高雄大學應用物理學系碩士班

利用半導體元件測定普朗克常數與波茲曼常數 = Measurements of the Planck's constant and the Boltzmann's constant by using semiconductor devices

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Measurements of the Planck's constant and the Boltzmann's constant by using semiconductor devices
Author:	徐義鴻,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2020[民109]
Description:	x,83葉圖,表 : 30公分;
Subject:	電壓源
Subject:	voltage source
Online resource:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/8xt2gs
Notes:	114年9月26日公開
Notes:	參考書目: 葉80-83

利用半導體元件測定普朗克常數與波茲曼常數 = Measurements of the Planck's constant and the Boltzmann's constant by using semiconductor devices
徐, 義鴻

利用半導體元件測定普朗克常數與波茲曼常數 = Measurements of the Planck's constant and the Boltzmann's constant by using semiconductor devices / 徐義鴻撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2020[民109]. - x,83葉 ; 圖,表 ; 30公分.
114年9月26日公開參考書目: 葉80-83.
電壓源voltage source

利用半導體元件測定普朗克常數與波茲曼常數 = Measurements of the Planck's constant and the Boltzmann's constant by using semiconductor devices
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300 $a 參考書目: 葉80-83
314 $a 指導教授: 余進忠教授
328 $a 碩士論文--國立高雄大學應用物理學系碩士班
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