國立高雄大學圖資館 |

語系: 繁體中文

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

深度學習技術於自動光學瑕疵檢測之研究-以印刷電路板通孔瑕疵檢測為例 =...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

深度學習技術於自動光學瑕疵檢測之研究-以印刷電路板通孔瑕疵檢測為例 = Automated Optical Inspection of Plating Through Holes Using Deep Learning Techniques

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Automated Optical Inspection of Plating Through Holes Using Deep Learning Techniques
作者:	謝昌燁,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2020[民109]
面頁冊數:	[5]，44葉圖 : 30公分;
標題:	自動光學檢測
標題:	AOI
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/wzeb64
附註:	110年5月1日公開
附註:	參考書目：葉34-37

深度學習技術於自動光學瑕疵檢測之研究-以印刷電路板通孔瑕疵檢測為例 = Automated Optical Inspection of Plating Through Holes Using Deep Learning Techniques
謝, 昌燁

深度學習技術於自動光學瑕疵檢測之研究-以印刷電路板通孔瑕疵檢測為例 = Automated Optical Inspection of Plating Through Holes Using Deep Learning Techniques / 謝昌燁撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2020[民109]. - [5]，44葉 ; 圖 ; 30公分.
110年5月1日公開參考書目：葉34-37.
自動光學檢測AOI

深度學習技術於自動光學瑕疵檢測之研究-以印刷電路板通孔瑕疵檢測為例 = Automated Optical Inspection of Plating Through Holes Using Deep Learning Techniques
LDR:01156pam0a2200265 450 001 584856
005 20211103112357.0
010 0 $b 平裝
010 0 $b 精裝
100 $a 20210309y2020 k y0chiy50 e
101 0 $a chi $d chi $d eng
102 $a tw
105 $a a am 000yy
200 1 $a 深度學習技術於自動光學瑕疵檢測之研究-以印刷電路板通孔瑕疵檢測為例 $d Automated Optical Inspection of Plating Through Holes Using Deep Learning Techniques $z eng $f 謝昌燁撰
210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2020[民109]
215 0 $a [5]，44葉 $c 圖 $d 30公分
300 $a 110年5月1日公開
300 $a 參考書目：葉34-37
314 $a 指導教授：吳志宏博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
510 1 $a Automated Optical Inspection of Plating Through Holes Using Deep Learning Techniques $z eng
610 # 0 $a 自動光學檢測 $a 生成對抗網路 $a 卷積神經網路 $a 深度學習 $a YOLO
610 # 1 $a AOI $a GAN $a CNN $a Deep learning $a YOLO
681 $a 008M/0019 $b 542201 0469 $v 2007年版
700 1 $a 謝 $b 昌燁 $4 撰 $3 875638
712 0 2 $a 國立高雄大學 $b 電機工程學系碩博士班 $3 769000
801 0 $a tw $b NUK $c 20210325 $g CCR
856 7 # $u https://handle.ncl.edu.tw/11296/wzeb64 $z 電子資源 $2 http