Design for testability, debug and re...
Drechsler, Rolf.

 

  • Design for testability, debug and reliabilitynext generation measures using formal techniques /
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : Monograph/item
    正題名/作者: Design for testability, debug and reliabilityby Sebastian Huhn, Rolf Drechsler.
    其他題名: next generation measures using formal techniques /
    作者: Huhn, Sebastian.
    其他作者: Drechsler, Rolf.
    出版者: Cham :Springer International Publishing :2021.
    面頁冊數: xxi, 164 p. :ill., digital ;24 cm.
    Contained By: Springer Nature eBook
    標題: Integrated circuitsDesign and construction.
    電子資源: https://doi.org/10.1007/978-3-030-69209-4
    ISBN: 9783030692094$q(electronic bk.)
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  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
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