Mitigating process variability and s...
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  • Mitigating process variability and soft errors at circuit-level for FinFETs
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : Monograph/item
    正題名/作者: Mitigating process variability and soft errors at circuit-level for FinFETsby Alexandra Zimpeck ... [et al.].
    其他作者: Zimpeck, Alexandra.
    出版者: Cham :Springer International Publishing :2021.
    面頁冊數: xiii, 131 p. :ill., digital ;24 cm.
    Contained By: Springer Nature eBook
    標題: Field-effect transistorsDesign and construction.
    電子資源: https://doi.org/10.1007/978-3-030-68368-9
    ISBN: 9783030683689$q(electronic bk.)
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