應用六標準差與決策實驗室分析法探討半導體封裝之黏晶製程改善 = Appl...
國立高雄大學亞太工商管理學系碩士班

 

  • 應用六標準差與決策實驗室分析法探討半導體封裝之黏晶製程改善 = Applying the Methods of Six-Sigma and DEMATEL to Studythe Die Bonding Process Improvement of SemiconductorPackaging : 以N公司為例; The Case of the N Company
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Applying the Methods of Six-Sigma and DEMATEL to Studythe Die Bonding Process Improvement of SemiconductorPackaging
    Title Information: 以N公司為例
    Author: 李柏瑤,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2021[民110]
    Description: [8],94葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 六標準差
    Subject: Six Sigma
    Online resource: https://hdl.handle.net/11296/5pnnfm
    Notes: 110年12月1日公開
    Notes: 參考書目:葉67-71
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310002982778 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343425 4041 2021 一般使用(Normal) On shelf 0
310002982786 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343425 4041 2021 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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