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有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation ...

劉至剛

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis
Author:	劉至剛,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2022[民111]
Description:	xii,59葉圖，表 : 30公分;
Subject:	晶圓針測
Subject:	Wafer testing
Online resource:	https://hdl.handle.net/11296/z8axsq
Notes:	111年12月1日公開
Notes:	參考書目：葉56-59

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis
劉, 至剛

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis / 劉至剛撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2022[民111]. - xii,59葉 ; 圖，表 ; 30公分.
111年12月1日公開參考書目：葉56-59.
晶圓針測Wafer testing

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis
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300 $a 參考書目：葉56-59
314 $a 指導教授：楊證富博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學化學工程及材料工程學系碩士班
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610 # 1 $a Wafer testing $a Vertical probe card $a COMSOL $a Joule heating $a Electrothermo-mechanical simulations
681 $a 008M/0019 $b 541208 7217 $v 2007年版
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