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有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation ...

劉至剛

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis
作者:	劉至剛,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2022[民111]
面頁冊數:	xii,59葉圖，表 : 30公分;
標題:	晶圓針測
標題:	Wafer testing
電子資源:	https://hdl.handle.net/11296/z8axsq
附註:	111年12月1日公開
附註:	參考書目：葉56-59

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis
劉, 至剛

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis / 劉至剛撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2022[民111]. - xii,59葉 ; 圖，表 ; 30公分.
111年12月1日公開參考書目：葉56-59.
晶圓針測Wafer testing

有限元素法模擬垂直式探針卡使用之探針燒針研究 = Simulation for Probe Burning in the Vertical Probe Card Using Finite Element Analysis
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300 $a 參考書目：葉56-59
314 $a 指導教授：楊證富博士
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