雷射/微波退火應用於不同尺寸之N型負電容場效電晶體電性分析及可靠度分析 ...
國立高雄大學電機工程學系碩博士班

 

  • 雷射/微波退火應用於不同尺寸之N型負電容場效電晶體電性分析及可靠度分析 = Study on Performance and Reliability of Laser/Microwave Annealed N-type NC-FETs under Different Dimensions
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Study on Performance and Reliability of Laser/Microwave Annealed N-type NC-FETs under Different Dimensions
    Author: 曾柏洋,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2022[民111]
    Description: [19],83葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 負電容場效應電晶體
    Subject: NC-FET
    Online resource: https://hdl.handle.net/11296/yg5y6y
    Notes: 111年12月1日公開
    Notes: 參考書目:葉80-83
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310003023358 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 8043 2022 一般使用(Normal) On shelf 0
310003023366 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 8043 2022 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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