低通道損傷蝕刻技術應用P型奈米線電晶體的製作 = Low Channel...
國立高雄大學電機工程學系碩博士班

 

  • 低通道損傷蝕刻技術應用P型奈米線電晶體的製作 = Low Channel Damage Etching Technology for the Fabrication of P-type Nanowire Transistors
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Low Channel Damage Etching Technology for the Fabrication of P-type Nanowire Transistors
    Author: 廖柏翰,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2022[民111]
    Description: xi,37葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 環繞式閘極電晶體
    Subject: GAAFET
    Online resource: https://hdl.handle.net/11296/ts2uk5
    Notes: 111年12月1日公開
    Notes: 參考書目:葉36-37
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310003023754 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 0044 2022 一般使用(Normal) On shelf 0
310003023762 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 0044 2022 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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