溫度對於Al/SiO2/Si MIS元件之光電特性影響探討 = The ...
吳彥儒

 

  • 溫度對於Al/SiO2/Si MIS元件之光電特性影響探討 = The Study of Temperature Effect on the Photoelectric Properties of the Al/SiO2/Si MIS Device
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: The Study of Temperature Effect on the Photoelectric Properties of the Al/SiO2/Si MIS Device
    Author: 吳彥儒,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2023[民112]
    Description: xiv,92面圖,表 : 30公分;
    Subject: 電子束蒸鍍
    Subject: electron beam evaporation
    Online resource: https://handle.ncl.edu.tw/11296/nw3uzx
    Notes: 112年12月1日公開
    Notes: 參考書目: 面90-92
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310003062950 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 2602 2023 一般使用(Normal) On shelf 0
310003062968 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 2602 2023 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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