對寬能隙半導體氧化鎵進行不同雜質添加之特性分析及元件製造 = Analy...
國立高雄大學化學工程及材料工程學系碩士班

 

  • 對寬能隙半導體氧化鎵進行不同雜質添加之特性分析及元件製造 = Analyses of Properties and Fabrications of Devices for Ga2O3 Wide Band-gap Semiconductor Thin Films with Different Dopants
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Analyses of Properties and Fabrications of Devices for Ga2O3 Wide Band-gap Semiconductor Thin Films with Different Dopants
    Author: 陳國熏,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2023[民112]
    Description: xiii,73葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 氧化鎵
    Subject: Gallium oxide
    Online resource: https://handle.ncl.edu.tw/11296/5cj35p
    Notes: 112年12月1日公開
    Notes: 參考書目: 葉69-73
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310003062091 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 541208 7562 2023 一般使用(Normal) On shelf 0
310003062109 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 541208 7562 2023 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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