模擬無接面環繞式閘極電晶體相同截面積下不同長寬表現差異 = Simula...
國立高雄大學電機工程學系碩博士班

 

  • 模擬無接面環繞式閘極電晶體相同截面積下不同長寬表現差異 = Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Simulating Gate-All-Around MOSFETs with Different Perimeters but Equal Cross-Section Area
    作者: 鄭雄展,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2023[民112]
    面頁冊數: x,29葉圖 : 30公分;
    標題: 環繞式閘極電晶體
    標題: Gate-All-Around Field-Effect Transistor (GAAFET)
    電子資源: https://handle.ncl.edu.tw/11296/kjrm7g
    附註: 112年12月1日公開
    附註: 參考書目: 葉28-29
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310003062638 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 8747 2023 一般使用(Normal) 在架 0
310003062646 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 8747 2023 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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