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基於製程良率指標之允收抽樣計畫及其使用者介面 = Acceptance ...

國立高雄大學統計學研究所

基於製程良率指標之允收抽樣計畫及其使用者介面 = Acceptance Sampling Plan Based on Process Yield Index and Its User Interface

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Acceptance Sampling Plan Based on Process Yield Index and Its User Interface
作者:	許舒婷,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2024[民113]
面頁冊數:	6, 45葉圖,表 : 30公分;
標題:	允收抽樣計畫
標題:	Acceptance Sampling Plan
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/qjxce4
附註:	113年11月15日公開
附註:	參考書目: 葉44-45

基於製程良率指標之允收抽樣計畫及其使用者介面 = Acceptance Sampling Plan Based on Process Yield Index and Its User Interface
許, 舒婷

基於製程良率指標之允收抽樣計畫及其使用者介面 = Acceptance Sampling Plan Based on Process Yield Index and Its User Interface / 許舒婷撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2024[民113]. - 6, 45葉 ; 圖,表 ; 30公分.
113年11月15日公開參考書目: 葉44-45.
允收抽樣計畫Acceptance Sampling Plan

基於製程良率指標之允收抽樣計畫及其使用者介面 = Acceptance Sampling Plan Based on Process Yield Index and Its User Interface
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300 $a 參考書目: 葉44-45
314 $a 指導教授: 許湘伶博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學統計學研究所
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610 # 0 $a 允收抽樣計畫 $a 群允收抽樣計畫 $a 多品質特性 $a 製程良率指標 $a 重新提交
610 # 1 $a Acceptance Sampling Plan $a Group Acceptance Sampling Plan $a Multiple Quality Characteristics $a Process Yield Index $a Resubmitted
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