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原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...
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汪島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic forcemicroscope
Record Type:
Language materials, printed : monographic
Paralel Title:
Patent analysis of atomic forcemicroscope
Author:
汪島軍,
Place of Publication:
臺北市
Published:
科資中心;
Year of Publication:
2004[民93]
Edition:
第一版
Description:
125面圖 : 30公分;
Series:
奈米科技專利研究系列8
Subject:
奈米技術 -
Subject:
電子顯微鏡 -
Notes:
含參考書目
ISBN:
957-619-117-3
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic forcemicroscope
汪, 島軍
原子力顯微鏡專利地圖及分析
= Patent analysis of atomic forcemicroscope / 汪島軍等著 - 第一版. - 臺北市 : 科資中心, 2004[民93]. - 125面 ; 圖 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 8).
含參考書目.
ISBN 957-619-117-3
奈米技術電子顯微鏡
原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic forcemicroscope
LDR
:00734nam2 2200229 450
001
66218
005
20100814234107.0
009
00135723
010
0
$a
957-619-117-3
$b
平裝
$d
NT1500
100
$a
20090527d2004 m y0chiy08 e
101
0
$a
chi
102
$a
tw
105
$a
a z 000yy
200
1
$a
原子力顯微鏡專利地圖及分析
$d
Patent analysis of atomic forcemicroscope
$z
eng
$f
汪島軍等著
205
$a
第一版
210
$a
臺北市
$d
2004[民93]
$c
科資中心
215
0
$a
125面
$c
圖
$d
30公分
225
1
$a
奈米科技專利研究系列
$v
8
300
$a
含參考書目
510
1
$a
Patent analysis of atomic force microscope
$z
eng
606
$2
csh
$a
奈米技術
$3
57889
606
$2
csh
$a
電子顯微鏡
$3
37918
681
$a
471.73
$b
3123
$v
增訂八版
700
$a
汪
$b
島軍
$4
著
$3
92886
801
0
$a
tw
$b
NUK
$c
20051227
$g
CCR
801
1
$a
tw
$b
NUK
$c
20051227
$g
CCR
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東方語文圖書區(五樓)
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Item Class
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Usage Class
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310000933880
東方語文圖書區(五樓)
1圖書
一般圖書
471.73 3123 2004
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