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閘極與汲極偏壓對N型無接面全環式閘極場效電晶體的可靠度影響 = Impa...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

閘極與汲極偏壓對N型無接面全環式閘極場效電晶體的可靠度影響 = Impact of Gate and Drain Bias on the Reliability of N-Type Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistors

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Impact of Gate and Drain Bias on the Reliability of N-Type Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistors
Author:	蔡糧屹,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2025[民114]
Description:	xi,53葉圖,表 : 30公分;
Subject:	無接面
Subject:	Junctionless
Online resource:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/577c9x
Notes:	114年4月15日公開
Notes:	參考書目: 葉49-53

閘極與汲極偏壓對N型無接面全環式閘極場效電晶體的可靠度影響 = Impact of Gate and Drain Bias on the Reliability of N-Type Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistors
蔡, 糧屹

閘極與汲極偏壓對N型無接面全環式閘極場效電晶體的可靠度影響 = Impact of Gate and Drain Bias on the Reliability of N-Type Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistors / 蔡糧屹撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2025[民114]. - xi,53葉 ; 圖,表 ; 30公分.
114年4月15日公開參考書目: 葉49-53.
無接面Junctionless

閘極與汲極偏壓對N型無接面全環式閘極場效電晶體的可靠度影響 = Impact of Gate and Drain Bias on the Reliability of N-Type Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistors
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300 $a 114年4月15日公開
300 $a 參考書目: 葉49-53
314 $a 指導教授: 張文騰博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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610 # 0 $a 無接面 $a 全環式閘極場效電晶體 $a 熱載子注入 $a 臨界電壓 $a 次臨界擺幅 $a TCAD
610 # 1 $a Junctionless $a Gate-All-Around Field-Effect Transistor $a Hot Carrier Injection $a Threshold Voltage $a Subthreshold Swing $a TCAD
681 $a 008M/0019 $b 542201 4492.4 $v 2007年版
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