N型無接面環繞式閘極電晶體之駝峰效應與源汲阻抗分析 = Hump Eff...
國立高雄大學電機工程學系碩博士班

 

  • N型無接面環繞式閘極電晶體之駝峰效應與源汲阻抗分析 = Hump Effect and Source/Drain Impedance Analysis of N Type Junctionless Gate All Around Transistors
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Hump Effect and Source/Drain Impedance Analysis of N Type Junctionless Gate All Around Transistors
    Author: 李任健,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2025[民114]
    Description: x,64葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 駝峰效應
    Subject: Hump Effect
    Online resource: https://handle.ncl.edu.tw/11296/wey26d
    Notes: 114年12月10日公開
    Notes: 參考書目: 葉60-64
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310003144154 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4022.1 2025 一般使用(Normal) On shelf 0
310003144162 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4022.1 2025 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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