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無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-C...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices
Author:	江秉儒,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2025[民114]
Description:	ix,58葉圖 : 30公分;
Subject:	無接面環繞式閘極電晶體
Subject:	Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistor
Online resource:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/fmytqt
Notes:	115年4月15日公開
Notes:	參考書目: 葉55-58

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices
江, 秉儒

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices / 江秉儒撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2025[民114]. - ix,58葉 ; 圖 ; 30公分.
115年4月15日公開參考書目: 葉55-58.
無接面環繞式閘極電晶體Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistor

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices
LDR:01378pam0a2200277 450 001 686756
005 20260430113649.0
010 0 $b 精裝
010 0 $b 平裝
099 $a 114NUK00442007
100 $a 20260304y2025 k y0chiy50 e
101 0 $a chi $d chi $d eng
102 $a tw
105 $a ak am 000yy
200 1 $a 無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 $d Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices $z eng $f 江秉儒撰
210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2025[民114]
215 0 $a ix,58葉 $c 圖 $d 30公分
300 $a 115年4月15日公開
300 $a 參考書目: 葉55-58
314 $a 指導教授: 張文騰博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
510 1 $a Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices $z eng
610 0 $a 無接面環繞式閘極電晶體 $a 鰭式場效電晶體 $a 短通道效應 $a 直流/交流特性分析 $a 阻抗頻譜分析 $a 可靠度分析
610 1 $a Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistor $a FinFET $a Short-Channel Effect $a DC/AC Characteristics Analysis $a Impedance Spectroscopy $a Reliability Analysis
681 $a 008M/0019 $b 542201 3122.1 $v 2007年版
700 1 $a 江 $b 秉儒 $4 撰 $3 144294
712 0 2 $a 國立高雄大學 $b 電機工程學系碩博士班 $3 769000
801 0 $a tw $b NUK $c 20260304 $g CCR
856 4 $u https://handle.ncl.edu.tw/11296/fmytqt $z 電子資源