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無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-C...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices
作者:	江秉儒,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2025[民114]
面頁冊數:	ix,58葉圖 : 30公分;
標題:	無接面環繞式閘極電晶體
標題:	Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistor
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/fmytqt
附註:	115年4月15日公開
附註:	參考書目: 葉55-58

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices
江, 秉儒

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices / 江秉儒撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2025[民114]. - ix,58葉 ; 圖 ; 30公分.
115年4月15日公開參考書目: 葉55-58.
無接面環繞式閘極電晶體Junctionless Gate-All-Around Field-Effect Transistor

無接面環繞閘極與有接面鰭式場效電晶體之閘極控制阻抗分析 = Gate-Controlled Impedance Analysis of Junctionless Gate-All-Around and Junction-Based FinFET Devices
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