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堆疊式功函數金屬為 N/P 型鰭式場效電晶體之閘極應力可靠性 = Wor...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

堆疊式功函數金屬為 N/P 型鰭式場效電晶體之閘極應力可靠性 = Work Function Metals on Gate Stress Reliability of N- and P-FinFETs

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Work Function Metals on Gate Stress Reliability of N- and P-FinFETs
作者:	鄒宗倫,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2023[民112]
面頁冊數:	x,59葉圖,表 : 30公分;
標題:	閘極應力
標題:	Gate Stress
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/ca935c
附註:	112年12月1日公開
附註:	參考書目: 葉54-59

堆疊式功函數金屬為 N/P 型鰭式場效電晶體之閘極應力可靠性 = Work Function Metals on Gate Stress Reliability of N- and P-FinFETs
鄒, 宗倫

堆疊式功函數金屬為 N/P 型鰭式場效電晶體之閘極應力可靠性 = Work Function Metals on Gate Stress Reliability of N- and P-FinFETs / 鄒宗倫撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2023[民112]. - x,59葉 ; 圖,表 ; 30公分.
112年12月1日公開參考書目: 葉54-59.
閘極應力Gate Stress

堆疊式功函數金屬為 N/P 型鰭式場效電晶體之閘極應力可靠性 = Work Function Metals on Gate Stress Reliability of N- and P-FinFETs
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