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Test and diagnosis of analogue, mixe...
Institution of Engineering and Technology.

 

  • Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits :the system on chip approach /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits :edited by Yichuang Sun.
    其他題名: the system on chip approach /
    其他作者: Sun, Yichuang.
    出版者: London :Institution of Engineering and Technology,2008.
    面頁冊數: xx, 389 p. :ill. ;24 cm.
    標題: Linear integrated circuitsTesting.
    ISBN: 0863417450 (pbk.)
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
320000464265 西方語文圖書區(四樓) 1圖書 一般圖書 TK7874.654 T626 2008 一般使用(Normal) 在架 0
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