• 發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent(一). 一
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Guidelines for substantive examination of invention patent(一)
    Author: 蔡瑟珍,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立臺灣大學
    Place of Publication: 臺北市
    Published: 經濟部智慧局;
    Year of Publication: 2007[民96]
    Edition: 初版
    Description: [6], 192面圖 : 21公分;
    Series: 智慧財產培訓學院教材5
    Subject: 專利 - 標準 -
    Notes: 參考書目:面[183]
    Notes: 含附錄:1.與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs)第二十九條,2.專利法,3.專利法施行細則
    ISBN: 986-00-5161-5
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310001490740 東方語文圖書區(五樓) 1圖書 一般圖書 440.61 4411 2007 一般使用(Normal) On shelf 0
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