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覆晶封裝中底膠材料之最佳化材料參數研究 = The Optimizati...
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國立高雄大學電機工程學系碩士班
覆晶封裝中底膠材料之最佳化材料參數研究 = The Optimization of Underfill Material for Flip Chip Packaging
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
The Optimization of Underfill Material for Flip Chip Packaging
作者:
陳奕良,
其他團體作者:
國立高雄大學
出版地:
[高雄市]
出版者:
撰者;
出版年:
2009[民98]
面頁冊數:
54面圖,表 : 30公分;
標題:
底膠
標題:
Underfill
電子資源:
http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/94259351948020379635
摘要註:
本論文針對覆晶封裝製程中,因為晶片、基板、凸塊和底膠材料都之不同,當溫度變化時,所產生的熱膨脹效應使得整個封裝出現翹曲變形的現象。 特別是針對充填用的底膠材料,如何能夠調整晶片、基板和凸塊之間的熱膨脹係數差異,來強化銲錫連接的強度,降低連接點的疲勞應力,以增加凸塊產品封裝壽命。 並提出一改良式材料結構分析模型,加入底膠材料之黏彈性性質參數,能更實際提供分析其對於銲錫凸塊之應力影響狀況。並得到底膠材料之最佳化材料參數選擇方式。 This thesis is focus on the problem of warpage in flip-chip package due to the CTE mismatch between die, substrate, and bump using various underfill materials. The underfill material is an important factor to extend shelf life of flip-chip product. It can absorb CTE mismatch between die, substrate and bump in order to increase bump joint strength and decrease stress on it. In this thesis an modified model of modules of underfill is suggested for analyzing stress distribution in flip-chip analysis, and to optimize the processing of underfill material.
覆晶封裝中底膠材料之最佳化材料參數研究 = The Optimization of Underfill Material for Flip Chip Packaging
陳, 奕良
覆晶封裝中底膠材料之最佳化材料參數研究
= The Optimization of Underfill Material for Flip Chip Packaging / 陳奕良撰 - [高雄市] : 撰者, 2009[民98]. - 54面 ; 圖,表 ; 30公分.
參考書目:面54.
底膠Underfill
覆晶封裝中底膠材料之最佳化材料參數研究 = The Optimization of Underfill Material for Flip Chip Packaging
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覆晶封裝中底膠材料之最佳化材料參數研究
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The Optimization of Underfill Material for Flip Chip Packaging
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陳奕良撰
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指導教授:施明昌
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參考書目:面54
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碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
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本論文針對覆晶封裝製程中,因為晶片、基板、凸塊和底膠材料都之不同,當溫度變化時,所產生的熱膨脹效應使得整個封裝出現翹曲變形的現象。 特別是針對充填用的底膠材料,如何能夠調整晶片、基板和凸塊之間的熱膨脹係數差異,來強化銲錫連接的強度,降低連接點的疲勞應力,以增加凸塊產品封裝壽命。 並提出一改良式材料結構分析模型,加入底膠材料之黏彈性性質參數,能更實際提供分析其對於銲錫凸塊之應力影響狀況。並得到底膠材料之最佳化材料參數選擇方式。 This thesis is focus on the problem of warpage in flip-chip package due to the CTE mismatch between die, substrate, and bump using various underfill materials. The underfill material is an important factor to extend shelf life of flip-chip product. It can absorb CTE mismatch between die, substrate and bump in order to increase bump joint strength and decrease stress on it. In this thesis an modified model of modules of underfill is suggested for analyzing stress distribution in flip-chip analysis, and to optimize the processing of underfill material.
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博碩士論文區(二樓)
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學位論文
008M/0019 542201 7503 2009
一般使用(Normal)
在架
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310001798001
博碩士論文區(二樓)
不外借資料
學位論文
008M/0019 542201 7503 2009 c.2
一般使用(Normal)
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