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錫球合金成份對BGA封裝可靠度之研究 = Study of the Ef...
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國立高雄大學電機工程學系碩士班
錫球合金成份對BGA封裝可靠度之研究 = Study of the Effect of the Composition of Solder Ball Alloy in Ball Grid Array Package
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Study of the Effect of the Composition of Solder Ball Alloy in Ball Grid Array Package
作者:
王聰銘,
其他團體作者:
國立高雄大學
出版地:
[高雄市]
出版者:
撰者;
出版年:
2009[民98]
面頁冊數:
12, 83面圖,表 : 30公分;
標題:
球柵陣列封裝
標題:
BGA
電子資源:
http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/73942627794766765929
摘要註:
由於錫球在封裝中所扮演訊號傳遞的角色,而如何使錫球在消費者使用過程中,不論是在正常使用或者是受到外力衝擊的條件下,都能保持錫球完整性便是此研究的主要目標。本論文針對半導體封裝中錫球材料成份部份做一些探討,錫球在封裝製程中佔很重要的一個角色,錫球負責訊號的傳遞,只要錫球損壞,將會導致晶片無法輸入或輸出訊號而導致整個元件功能失效。本論文以封裝業界評估錫球可靠度的方式做一些深入的探討,進而比較出何種球成份合金組合、添加何種金屬元素,能有效提升錫球可靠度,延長使用時效,避免錫球掉落。 Since solder ball play an important role of signal interconnection in package, it is the major goal to maintain the strength and electric contact of the solder ball under standard liability testing. This thesis is focus on the study of the solder ball composition in ball grid array (BGA) package to evaluate solder ball reliability by various testing procedures. A set of maximum performance of the solder ball compositions which can improve the reliability, working life and minimize the failure modes of the solder ball has been achieved.
錫球合金成份對BGA封裝可靠度之研究 = Study of the Effect of the Composition of Solder Ball Alloy in Ball Grid Array Package
王, 聰銘
錫球合金成份對BGA封裝可靠度之研究
= Study of the Effect of the Composition of Solder Ball Alloy in Ball Grid Array Package / 王聰銘撰 - [高雄市] : 撰者, 2009[民98]. - 12, 83面 ; 圖,表 ; 30公分.
參考書目:面83.
球柵陣列封裝BGA
錫球合金成份對BGA封裝可靠度之研究 = Study of the Effect of the Composition of Solder Ball Alloy in Ball Grid Array Package
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指導教授:施明昌
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參考書目:面83
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碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
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由於錫球在封裝中所扮演訊號傳遞的角色,而如何使錫球在消費者使用過程中,不論是在正常使用或者是受到外力衝擊的條件下,都能保持錫球完整性便是此研究的主要目標。本論文針對半導體封裝中錫球材料成份部份做一些探討,錫球在封裝製程中佔很重要的一個角色,錫球負責訊號的傳遞,只要錫球損壞,將會導致晶片無法輸入或輸出訊號而導致整個元件功能失效。本論文以封裝業界評估錫球可靠度的方式做一些深入的探討,進而比較出何種球成份合金組合、添加何種金屬元素,能有效提升錫球可靠度,延長使用時效,避免錫球掉落。 Since solder ball play an important role of signal interconnection in package, it is the major goal to maintain the strength and electric contact of the solder ball under standard liability testing. This thesis is focus on the study of the solder ball composition in ball grid array (BGA) package to evaluate solder ball reliability by various testing procedures. A set of maximum performance of the solder ball compositions which can improve the reliability, working life and minimize the failure modes of the solder ball has been achieved.
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博碩士論文區(二樓)
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學位論文
008M/0019 542201 1018 2009
一般使用(Normal)
在架
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310001798282
博碩士論文區(二樓)
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學位論文
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