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不同尺寸之P型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究 = Study on Re...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

不同尺寸之P型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究 = Study on Reliability of P-Channel FinFET Devices with Various Dimensions

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Study on Reliability of P-Channel FinFET Devices with Various Dimensions
Author:	洪嘉鍵,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	[高雄市]
Published:	撰者;
Year of Publication:	民103[2014]
Description:	85葉圖 : 30公分;
Subject:	鰭式場效電晶體
Subject:	FinFET
Online resource:	http://hdl.handle.net/11296/ndltd/49525804459980992891
Notes:	106年10月31日公開
Notes:	參考書目：葉78-82
[NT 15001349]:	不同尺寸之p型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究
Summary:	紙本專利開放日106.07.30

不同尺寸之P型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究 = Study on Reliability of P-Channel FinFET Devices with Various Dimensions
洪, 嘉鍵

不同尺寸之P型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究 = Study on Reliability of P-Channel FinFET Devices with Various Dimensions / 洪嘉鍵撰 - [高雄市] : 撰者, 民103[2014]. - 85葉 ; 圖 ; 30公分.
106年10月31日公開參考書目：葉78-82.
鰭式場效電晶體FinFET

不同尺寸之P型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究 = Study on Reliability of P-Channel FinFET Devices with Various Dimensions
LDR:01352nam0 2200289 450 001 430215
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010 0 $b 平裝
010 0 $b 精裝
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200 1 $a 不同尺寸之P型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究 $d Study on Reliability of P-Channel FinFET Devices with Various Dimensions $z eng $f 洪嘉鍵撰
210 $a [高雄市] $c 撰者 $d 民103[2014]
215 0 $a 85葉 $c 圖 $d 30公分
300 $a 106年10月31日公開
300 $a 參考書目：葉78-82
314 $a 指導教授：葉文冠博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
330 $a 紙本專利開放日106.07.30
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517 1 $a 不同尺寸之p型先進鰭式場效電晶體可靠度之研究 $z chi
610 # 0 $a 鰭式場效電晶體 $a 短通道效應 $a 熱載子效應 $a 負偏壓不穩定性 $a 高介電常數 $a 量子效應
610 # 1 $a FinFET $a Short Channel Effect $a Hot Carrier Injection $a Negative Bias Temperature Instability $a High-k $a Quantum Effect
681 $a 008M/0019 $b 542201 3448 $v 2007年版
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801 0 $a tw $b NUK $c 20171030 $g CCR
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