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以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Inves...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise
Author:	楊程凱,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2017[民106]
Description:	75葉圖 : 30公分;
Subject:	鰭式場效電晶體
Subject:	R-D (React-Diffusion) model
Online resource:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/82812929513464874720
Notes:	106年10月25日公開

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise
楊, 程凱

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise / 楊程凱撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2017[民106]. - 75葉 ; 圖 ; 30公分.
106年10月25日公開.
參考書目: 葉73-75.
鰭式場效電晶體R-D (React-Diffusion) model

以隨機電報雜訊對P型鰭式場效電晶體之缺陷特性研究 = The Investigation of Defect Distribution of pFinFET by Random Telegraph Noise
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314 $a 指導教授: 葉文冠博士
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328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
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610 # 0 $a 鰭式場效電晶體 $a 隨機電報雜訊 $a 高介電絕緣層/金屬閘極 $a 定電壓應力 $a 二氧化鉿
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