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多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Stud...

國立高雄大學電機工程學系碩士班

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET
Author:	戴安妮,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2017[民106]
Description:	69葉圖 : 30公分;
Subject:	鰭式場效電晶體
Subject:	FinFET
Online resource:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/29207050338063090638
Notes:	106年10月25日公開

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET
戴, 安妮

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET / 戴安妮撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2017[民106]. - 69葉 ; 圖 ; 30公分.
106年10月25日公開.
參考書目: 葉68-69.
鰭式場效電晶體FinFET

多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET
LDR:01200pam0a2200265 450 001 503998
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010 0 $b 精裝
010 0 $b 平裝
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200 1 $a 多重鰭數對P型鰭式場效電晶體之電性分析及可靠度研究 $d The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET $z eng $f 戴安妮撰
210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2017[民106]
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300 $a 106年10月25日公開
314 $a 指導教授: 葉文冠博士
320 $a 參考書目: 葉68-69
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩士班
510 1 $a The Study of Device Performance and Reliability for Multi-Fin p-Channel Tri-Gate FinFET $z eng
610 # 0 $a 鰭式場效電晶體 $a 熱載子效應 $a 多重鰭結構 $a 耦合效應 $a 基底偏壓效應
610 # 1 $a FinFET $a hot carrier effect $a multi-fin $a coupling effect $a substrate-bias effect
681 $a 008M/0019 $b 542201 4334 $v 2007年版
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