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利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and...

國立高雄大學亞太工商管理學系碩士班

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk
Author:	林佑蒨,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2018[民107]
Description:	62葉圖，表格 : 30公分;
Subject:	會展產業
Subject:	Exhibition Industry
Online resource:	https://hdl.handle.net/11296/gdkqvq
Notes:	107年11月1日公開
Notes:	參考書目：葉56-60

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk
林, 佑蒨

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk / 林佑蒨撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2018[民107]. - 62葉 ; 圖，表格 ; 30公分.
107年11月1日公開參考書目：葉56-60.
會展產業Exhibition Industry

利用QFD與FMEA降低會展流程失效風險 = Using QFD and FMEA to Reduce the Exposure Process Failure Risk
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300 $a 參考書目：葉56-60
314 $a 指導教授：盧昆宏教授
328 $a 碩士論文--國立高雄大學亞太工商管理學系碩士班
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610 # 0 $a 會展產業 $a 品質機能展開 $a 失效模式與效應分析 $a FTCC
610 # 1 $a Exhibition Industry $a Quality Function Deployment $a Failure Mode & Effect Analysis $a FTCC Mode
681 $a 008M/0019 $b 343425 4424 $v 2007年版
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