玻璃晶圓切割各項因子與切割正崩品質關係之研究 = The Study o...
國立高雄大學電機工程學系--電子構裝整合技術產業碩士專班

 

  • 玻璃晶圓切割各項因子與切割正崩品質關係之研究 = The Study of the Relationship between Factors of Glass Wafer Dicing and the Quality of Top Side Chipping
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: The Study of the Relationship between Factors of Glass Wafer Dicing and the Quality of Top Side Chipping
    Author: 陳麒超,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2018[民107]
    Description: 51葉圖,表格 : 30公分;
    Subject: 玻璃晶圓
    Subject: Glass
    Online resource: https://hdl.handle.net/11296/6kpmg9
    Notes: 107年11月1日公開
    Notes: 參考書目:葉51
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310002821851 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 7504.3 2018 一般使用(Normal) On shelf 0
310002821869 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 7504.3 2018 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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