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功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = Th...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions
Author:	林孟琰,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2019[民108]
Description:	74葉部分彩圖 : 30公分;
Subject:	三閘極鰭式場效電晶體
Subject:	FinFET
Online resource:	http://handle.ncl.edu.tw/11296/j5axs2
Notes:	108年10月31日公開
Notes:	參考書目: 葉59-63

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions
林, 孟琰

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions / 林孟琰撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2019[民108]. - 74葉 ; 部分彩圖 ; 30公分.
108年10月31日公開參考書目: 葉59-63.
三閘極鰭式場效電晶體FinFET

功函數對於多鰭數p-FinFET之電性分析及NBTI可靠度研究 = The Device Performance and Reliability of Negative-bias Temperature Instability of multi-fin p-FinFET with Different Work Functions
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300 $a 參考書目: 葉59-63
314 $a 指導教授: 葉文冠博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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