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應用影像視覺技術於凸塊孔洞缺點量測 = Application of I...

國立高雄大學電機工程學系--電子構裝整合技術產業碩士專班

應用影像視覺技術於凸塊孔洞缺點量測 = Application of Image Vision Technology in the Measurement of Bump Void Defects

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Application of Image Vision Technology in the Measurement of Bump Void Defects
Author:	陳虹彣,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2020[民109]
Description:	[8]，48葉圖，表 : 30公分;
Subject:	影像視覺
Subject:	Image vision
Online resource:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/tfqemt
Notes:	109年11月18日公開
Notes:	參考書目：葉37-38

應用影像視覺技術於凸塊孔洞缺點量測 = Application of Image Vision Technology in the Measurement of Bump Void Defects
陳, 虹彣

應用影像視覺技術於凸塊孔洞缺點量測 = Application of Image Vision Technology in the Measurement of Bump Void Defects / 陳虹彣撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2020[民109]. - [8]，48葉 ; 圖，表 ; 30公分.
109年11月18日公開參考書目：葉37-38.
影像視覺Image vision

應用影像視覺技術於凸塊孔洞缺點量測 = Application of Image Vision Technology in the Measurement of Bump Void Defects
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010 0 $b 平裝
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210 $a 高雄市 $c 國立高雄大學 $d 2020[民109]
215 0 $a [8]，48葉 $c 圖，表 $d 30公分
300 $a 109年11月18日公開
300 $a 參考書目：葉37-38
314 $a 指導教授：謝昱銘博士，施明昌教授
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系-電子構裝整合技術產業碩士專班
510 1 $a Application of Image Vision Technology in the Measurement of Bump Void Defects $z eng
610 # 0 $a 影像視覺 $a 缺陷辨識
610 # 1 $a Image vision $a Defect detecting
681 $a 008M/0019 $b 542201 7550 $v 2007年版
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