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不同汲極偏壓與快速熱退火對N型負電容場效電晶體之電性分析及可靠度研究 =...

國立高雄大學電機工程學系碩博士班

不同汲極偏壓與快速熱退火對N型負電容場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Impact of Different Drain Voltage and RTA on the Device Performance and Reliability of N-type NCFET

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The Impact of Different Drain Voltage and RTA on the Device Performance and Reliability of N-type NCFET
Author:	尤尹宏,
Secondary Intellectual Responsibility:	國立高雄大學
Place of Publication:	高雄市
Published:	國立高雄大學;
Year of Publication:	2020[民109]
Description:	ix,63葉圖,表 : 30公分;
Subject:	正偏壓溫度不穩定性
Subject:	Different Drain Voltage
Online resource:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/8fj5r3
Notes:	114年9月26日公開
Notes:	參考書目: 葉59-63

不同汲極偏壓與快速熱退火對N型負電容場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Impact of Different Drain Voltage and RTA on the Device Performance and Reliability of N-type NCFET
尤, 尹宏

不同汲極偏壓與快速熱退火對N型負電容場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Impact of Different Drain Voltage and RTA on the Device Performance and Reliability of N-type NCFET / 尤尹宏撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2020[民109]. - ix,63葉 ; 圖,表 ; 30公分.
114年9月26日公開參考書目: 葉59-63.
正偏壓溫度不穩定性Different Drain Voltage

不同汲極偏壓與快速熱退火對N型負電容場效電晶體之電性分析及可靠度研究 = The Impact of Different Drain Voltage and RTA on the Device Performance and Reliability of N-type NCFET
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010 0 $b 平裝
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300 $a 參考書目: 葉59-63
314 $a 指導教授: 葉文冠博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學電機工程學系碩博士班
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