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半導體深度學習瑕疵檢測之整合開發 = Integrated Develo...

國立高雄大學資訊工程學系碩士班

半導體深度學習瑕疵檢測之整合開發 = Integrated Development for Deep-Learning Defect Detection in Semi-conductor Industry

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Integrated Development for Deep-Learning Defect Detection in Semi-conductor Industry
作者:	蘇子仁,
其他團體作者:	國立高雄大學
出版地:	高雄市
出版者:	國立高雄大學;
出版年:	2024[民113]
面頁冊數:	x,70葉圖,表 : 30公分;
標題:	深度學習
標題:	Deep Learning
電子資源:	https://handle.ncl.edu.tw/11296/qke7we
附註:	113年11月15日公開
附註:	參考書目: 葉65-70

半導體深度學習瑕疵檢測之整合開發 = Integrated Development for Deep-Learning Defect Detection in Semi-conductor Industry
蘇, 子仁

半導體深度學習瑕疵檢測之整合開發 = Integrated Development for Deep-Learning Defect Detection in Semi-conductor Industry / 蘇子仁撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2024[民113]. - x,70葉 ; 圖,表 ; 30公分.
113年11月15日公開參考書目: 葉65-70.
深度學習Deep Learning

半導體深度學習瑕疵檢測之整合開發 = Integrated Development for Deep-Learning Defect Detection in Semi-conductor Industry
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300 $a 參考書目: 葉65-70
314 $a 指導教授: 洪宗貝博士
328 $a 碩士論文--國立高雄大學資訊工程學系碩士班
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610 1 $a Deep Learning $a Defect Detection $a Robotic Process Automation $a Semi-Automatic Annotation $a Model Performance Control
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