電子束沉積不同雜質摻雜Ga2O3寬能隙半導體薄膜之特性分析與元件製造 =...
國立高雄大學化學工程及材料工程學系碩士班

 

  • 電子束沉積不同雜質摻雜Ga2O3寬能隙半導體薄膜之特性分析與元件製造 = Characterizations and Device Fabrications of Ga2O3 Wide Bandgap Semiconductor Thin Films Doped with Different Impurities via Electron Beam Deposition
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Characterizations and Device Fabrications of Ga2O3 Wide Bandgap Semiconductor Thin Films Doped with Different Impurities via Electron Beam Deposition
    作者: 王怡雯,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2025[民114]
    面頁冊數: xiv,101面圖,表 : 30公分;
    標題: 電子束蒸鍍
    標題: electron beam evaporation (e-beam)
    電子資源: https://handle.ncl.edu.tw/11296/9shr47
    附註: 114年12月10日公開
    附註: 參考書目: 面94-101
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310003143131 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 541208 1091 2025 一般使用(Normal) 在架 0
310003143149 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 541208 1091 2025 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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